Новый метод компьютерного зрения, разработанный инженерами Массачусетского технологического института, значительно ускоряет определение характеристик недавно синтезированных электронных материалов. Технология автоматически анализирует изображения напечатанных образцов полупроводников и быстро оценивает два ключевых электронных свойства для каждого образца: запрещенную зону (показатель энергии активации электронов) и стабильность (показатель долговечности).

Новый метод точно характеризует электронные материалы в 85 раз быстрее по сравнению со стандартным подходом к тестированию.

Для проверки стабильности команда поместила тот же предметный стекло в камеру, в которой они меняли условия окружающей среды, такие как влажность, температура и освещенность. Они использовали стандартную RGB-камеру для получения изображения образцов каждые 30 секунд в течение двух часов. Затем они применили второй алгоритм к изображениям каждого образца с течением времени, чтобы оценить степень изменения цвета каждой капли или ее деградации в различных условиях окружающей среды. В итоге алгоритм выдал ”индекс стабильности», или показатель долговечности каждого образца.

В качестве проверки команда сравнила свои результаты с ручными измерениями тех же капель, сделанными экспертом в предметной области. По сравнению с контрольными оценками экспертов, результаты команды по ширине запрещенной зоны и стабильности были на 98,5% и 96,9% точнее соответственно и в 85 раз быстрее.

источник —> https://news.mit.edu/2024/new-computer-vision-method-helps-speed-screening-electronic-materials-0611